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干涉仪是一种利用干涉原理测量光学元件表面形貌的仪器，自制干涉仪和ZYGO干涉仪的原理都基于光的干涉现象。
自制干涉仪的原理主要是通过产生两束相干光束，使它们产生干涉，然后通过观察和分析干涉条纹的变化，来测量和研究光学元件的表面形貌，其工作流程可能包括产生光源、形成干涉条纹、捕捉条纹图像以及分析图像数据等步骤，具体的实现方式会根据制作人的设计思路以及应用需求有所不同。
ZYGO干涉仪则是一种商业化的干涉仪产品，其工作原理与自制干涉仪类似，也是基于光的干涉现象，ZYGO干涉仪通常包括更精密的光学元件和先进的图像处理技术，可以产生清晰、精确的干涉条纹，并通过计算机分析来得到高精度的表面形貌数据，ZYGO干涉仪还可能包含一些特殊功能，如自动化测量、数据处理和报告生成等。
无论是自制干涉仪还是ZYGO干涉仪，其基本原理都是利用光的干涉现象来测量和研究光学元件的表面形貌，不过，由于设计和制造上的差异，它们在性能、精度、使用便捷性等方面可能会有所不同。